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禾苗 镀层测厚仪E8-SPR 镀层测厚仪

2020/1/25 1:04:48发布100次查看
  • 类型:镀层测厚仪
  • 品牌:其他
  • 型号:E8-SPR
  • 测量范围:0.0000018
  • 提供加工定制:是
  • 电源电压:220
  • 外形尺寸:380 mm x 510mm x 365


● 仪器重量  :33.5kg
● 供电电源:ac220v/ 50hz
● **功率 :330w
● 工作温度 :15-30℃
● 相对湿度 :≤85%,不结露
探测器
● 类型:x123探测器(采用原装进口高性能电致冷半导体探测器)
● be窗厚度:1mil
● 晶体面积:25mm2
● *分辨率:145ev
● 信号处理系统dp5
x射线管
● 电    压:0~50kv
● **电流 :2.0ma
● **功率 :50w
● 靶    材:mo
● be窗厚度 :0.2mm
● 使用寿命 :大于2万小时
高压电源
● 输出电压:0~50kv
● 灯丝电流:0~2ma
● **功率:50w
● 纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05%
摄像头
● 微焦距
● 500万像素
准直器、滤光片
● 快拆卸准直器、滤光片系统
● 多种材质准直器
● 光斑大小φ0.3mm、φ0.7mm、φ1.2mm、φ2.0mm、φ5.0mm、φ7.0mm可选
● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换
其他配件
●进口高性能开关电源
●进口低噪声、大风量风扇
外形特点:
● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
● 可视化样品窗。
● 辐射防护:
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽x射线。
● 辐射标志警示。
●迷宫式结构,防止射线泄漏。
● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μs快速切断x 仪器经权威第三方检测,x射线剂量率完全符合gb18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
硬件技术:
● 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。
● 电路系统符合emc、fcc测试标准。
● 专利技术快拆样品盘,更换薄膜更 软件技术:
● 分析元素:na~u之间元素。
● 分析时间:60秒。
● 配置rohs检测分析模型,无卤分析 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易可配置镀层分析模型、玩具指令等模型。
● heleex ed workstation v3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
● heleex ed workstation v3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
● heleex ed workstation v3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
 专业的镀层测试仪器heleex e8-spr是一款高性能能量色散型x射线荧光光谱仪
联系:徐

深圳市禾苗分析仪器有限公司(销售部0
徐光达
15986767682
福永街道立新湖福宁高新产业园孵化中心3楼
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